簡(jiǎn)要描述:步入式高溫老化房的溫度范圍:-40~120℃是客戶的設(shè)備溫度范圍要求,尺寸根據(jù)顧客給的內(nèi)箱尺寸,大型的就做成人可以步入進(jìn)去的,所以叫高低溫步入式試驗(yàn)箱。小型的則做成箱式的就叫高低溫試驗(yàn)箱。濕度范圍就做成客戶的-40℃~120℃,中間任意一個(gè)溫度都可以恒定或者交變做試驗(yàn)。
詳細(xì)介紹
品牌 | 柳沁科技 | 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) |
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產(chǎn)品新舊 | 全新 |
步入式高溫老化房的溫度范圍:-40~120℃是客戶的設(shè)備溫度范圍要求,尺寸根據(jù)顧客給的內(nèi)箱尺寸,大型的就做成人可以步入進(jìn)去的,所以叫高低溫步入式試驗(yàn)箱。小型的則做成箱式的就叫高低溫試驗(yàn)箱。濕度范圍就做成客戶的-40℃~120℃,中間任意一個(gè)溫度都可以恒定或者交變做試驗(yàn)。當(dāng)然如果此溫度范圍滿足不了的一些顧客還可以定做更大的溫度范圍如-70℃~150℃或者更小的溫度范圍如-20℃~85℃等要求均可非標(biāo)定制。
步入式高溫老化房適用范圍:
是常用于通訊、光電、LED、電子等產(chǎn)品(如:光電產(chǎn)品、機(jī)算機(jī)整機(jī)或零配件、顯示器、觸摸屏、終端機(jī)、車用電子產(chǎn)品、主機(jī)板、電源供應(yīng)器、監(jiān)視器、交換式充電器、手機(jī)、電腦、照相機(jī)、電話機(jī)等)仿真出一種高溫、低溫、高低溫交變、恒定、循環(huán)等惡劣溫度環(huán)境測(cè)試的設(shè)備,是提高產(chǎn)品可靠性、穩(wěn)定性的重試驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要試驗(yàn)環(huán)節(jié),高低溫步入式試驗(yàn)箱、溫度范圍:-40~120℃廣泛生產(chǎn)企業(yè)的實(shí)驗(yàn)室、國(guó)家計(jì)量院、研究所、高校實(shí)驗(yàn)室、第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)等領(lǐng)域。
步入式高溫老化房設(shè)備結(jié)構(gòu)
外框架構(gòu)采用雙面彩鋼保溫庫(kù)板組合而成,大小尺寸可根據(jù)客戶要求訂制,根據(jù)不同的要求來進(jìn)行配置。步入式試驗(yàn)箱主要由箱體、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)、時(shí)間控制系統(tǒng)、測(cè)試負(fù)載等組成。通過高低溫老化測(cè)試,可檢查出不良品或不良件,為顧客迅速找出問題并解決問題提供了有效的手段,充分提高了顧客生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì)。
符合標(biāo)準(zhǔn):
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)
GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求
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